露點(diǎn)儀的幾種工作方法露點(diǎn)儀/氣體分析儀/氣體檢測儀專(zhuān)家--深圳溫濕度傳感器技術(shù)有限公司 1. 鏡面式露點(diǎn)儀                            　                         不同水份含量的氣體在不同溫度下的鏡面上會(huì )結露。采用光電檢測技術(shù)，檢測出露層并測量結露時(shí)的溫度，直接顯示露點(diǎn)。鏡面制冷的方法有：半導體制冷、液氮制冷和高壓空氣制冷。鏡面式露點(diǎn)儀采用的是直接測量方法，在保證檢露準確、鏡面制冷率和精密測量結露溫度前提下，該種露點(diǎn)儀可作為標準露點(diǎn)儀使用。目前上zui高精度達到±0.1℃(露點(diǎn)溫度)，一般精度可達到±0.5℃以?xún)取?2. 電傳感器式露點(diǎn)儀                               　                               采用親水性材料或憎水性材料作為介質(zhì)，構成電容或電阻，在含水份的氣體流經(jīng)后，介電常數或電導率發(fā)生相應變化，測出當時(shí)的電容值或電阻值，就能知道當時(shí)的氣體水份含量。建立在露點(diǎn)單位制上設計的該類(lèi)傳感器，構成了電傳感器式露點(diǎn)儀。目前上zui高精度達到±1.0℃(露點(diǎn)溫度)，一般精度可達到±3℃以?xún)取?. 電介法露點(diǎn)儀                              　                         利用五氧化二磷等材料吸濕后分解成極性分子，從而在電極上積累電荷的特性，設計出建立在含濕量單位制上的電解法微水儀。目前上zui高精度達到±1.0℃(露點(diǎn)溫度)，一般精度可達到±3℃以?xún)取?4. 晶體振蕩式露點(diǎn)儀                              　                              利用晶體沾濕后振蕩頻率改變的特性，可以設計晶體振蕩式露點(diǎn)儀。這是一項較新的技術(shù)，目前尚處于不十分成熟的階段。國外有相關(guān)產(chǎn)品，但精度較差且成本很高。5. 紅外露點(diǎn)儀                              　                     利用氣體中的水份對紅外光譜吸收的特性，可以設計紅外式露點(diǎn)儀。目前該儀器很難測到低露點(diǎn)，主要是紅外探測器的峰值探測率還不能達到微量水吸收的量級，還有氣體中其他成份含量對紅外光譜吸收的干擾。但這是一項很新的技術(shù)，對于環(huán)境氣體水份含量的非接觸式在線(xiàn)監測具有重要的意義。  6. 半導體傳感器露點(diǎn)儀                               　                               每個(gè)水分子都具有其自然振動(dòng)頻率，當它進(jìn)入半導體晶格的空隙時(shí)，就和受到充電激勵的晶格產(chǎn)生共振，其共振頻率與水的摩爾數成正比。水分子的共振能使半導體結放出自由電子，從而使晶格的導電率增大，阻抗減小。利用這一特性設計的半導體露點(diǎn)儀可測到-100℃露點(diǎn)的微量水份。                                                                                   　        隨著(zhù)現代科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，人們紛紛把光電技術(shù)、新材料技術(shù)、紅外技術(shù)、微波技術(shù)、微電子技術(shù)、光纖技術(shù)、聲波技術(shù)甚至納米技術(shù)應用到氣體中水份的測量，使水份測量這一古老領(lǐng)域煥發(fā)出青春。        在測量原理上，技術(shù)人員認定鏡面結露的方法是zui直接且精度zui高的方法。鏡面露點(diǎn)儀在技術(shù)上將引進(jìn)近代技術(shù)成份。如山東青島歐必勝科技公司研制的冷鏡式激光露點(diǎn)儀采用了激光準直技術(shù)和CCD技術(shù)，在露層判別、露霜圖像識別技術(shù)上走到了世界前沿。專(zhuān)業(yè)人員在傳統的傳感器材料研究（如氧化鋁材料、氯化鋰材料、高分子材料和陶瓷材料）基礎上，用*不同的技術(shù)手段，陸續發(fā)展出許多間接測量氣體中微量水份的方式方法，解決了不同領(lǐng)域和不同環(huán)境中的微水份測量問(wèn)題。